穩定性分析儀數據收集方式分為兩種，一為掃描方式：沿著55 mm的掃描高度每 40 μm收集一次數據，在環境溫度下每20秒鐘做1次掃描并收集數據，每30秒溫度控制一次。可設置多達 250個掃描程序。二為固定位置方式，從儀器的可見顯示屏上操作：在一個選定的位置上（選定樣品的高度上）每秒鐘測量一次，或在計算機上編輯可操作程序進行加速試驗。應用這些功能，樣品中的粒子由于聚結、絮凝或團聚現象造成的粒子粒徑的變化及位置的變化可以被實時監測。從而可以計算樣品中粒子平均直徑的變化，粒子的遷移的速度及由于顆粒的遷移造成的濃度變化即分層厚度的隨時間變化。

 

　　該儀器的特點是測量且無須對濃縮分散相進行稀釋。從而確保產品在粒子尺寸和/或它的濃度方面符合所要求的技術規格。該儀器裝有溫度調節裝置，可控制溫度范圍在室溫+5°C至60°C 之間，溫度控制精度為 ± 0.5°C。

 

　　適用范圍：

　　本產品廣泛適用于炭黑、油墨、食品、精細化工品、研磨料、高分子、顏料、泥漿、漿料、化妝品、制藥、生物、碳納米管及其他，本產品可用于疊加磁場。本產品全面遵守：ISO TR CFR21 13097 Part11，本產品是目前市場上唯1直接，可加速的穩定性分析儀，品質更有保障，您值得擁有。 

 

　　穩定性分析儀軟件可以得出下面的幾種分析結果：

　　1、背散射光通量BS和透射光通量T相對時間的變化曲線。

　　2、相厚度隨時間的變化曲線。

　　3、粒子遷移速度相對時間的曲線和粒子的流體動力(水力)平均直徑。

　　4、物理不穩定性定量動態分析：粒子平均直徑相對時間變化的曲線或者樣品濃度相對時間變化的曲線。

　　5、光子的平均自由光程或者傳送的平均自由光程，d (平均直徑)，phi (濃度-體積百分數)，TSI穩定性指數。

　　6、TSI穩定性指數。（TSI是對整個分散體系穩定性的一個評價，其數值越大，就越不穩定）。